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原位掃描電鏡-掃描電鏡顯微鏡原理-電子顯微鏡原理

ZEM15原位掃描電鏡(SEM)

產(chǎn)品分類:原位掃描電鏡

品牌:澤攸科技
型號(hào):ZEM15
加速電壓:1-15kV連續(xù)可調(diào)
探測(cè)器種類:二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、能譜儀
放大倍數(shù):150000x
拉伸臺(tái)載荷大小:1000N
加載功能:拉伸、壓縮、彎曲

產(chǎn)品詳情 | PRODUCT DETAILS

ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、1000N原位拉伸樣品臺(tái),實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實(shí)驗(yàn)。

電鏡主機(jī)特色


鼠標(biāo).jpg僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作,無須對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟;

亮度/對(duì)比度一鍵自適應(yīng),自動(dòng)/手動(dòng)聚焦;


視頻模式.jpg抽真空時(shí)間小于90秒;

標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航,搭配多樣品臺(tái),實(shí)現(xiàn)快速找樣及切換樣品;


采集帶寬.jpg信號(hào)采集帶寬10M,掃描速度快;

視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品,操作流暢,無卡頓;


多探測(cè)器.jpg四分割背散射電子探測(cè)器(多種成像模式)、二次電子探測(cè)器;

BSE+SE 模式(任意比列混合)、集成EDS元素分析功能;


無憂售后.jpg國(guó)內(nèi)生產(chǎn)、銷售、售后一體化服務(wù);

北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設(shè)備演示;


原位拉伸臺(tái)參數(shù)

 

載荷范圍:0-1000N

位移分辨率:20nm

加熱模塊:可選

加載功能:拉伸、壓縮、三點(diǎn)彎曲





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